科研級三目正置金相顯微鏡WYJ-52XA配有大范圍移動的載物臺、柯勒落射照明系統(tǒng)、長距平場物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，可實現(xiàn)偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究。是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。總放大倍數(shù)：50X-800X
◆性能特點：
1、系統(tǒng)配置了大尺寸、大范圍移動載物臺，適合大工件的檢查。
2、采用大視野目鏡和長距平場物鏡，視場寬闊、平坦,成像清晰。
3、采用“T”型防振結(jié)構(gòu)設(shè)計，機械載物臺可慢速或快速移動試樣。
4、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
5、配置了偏光裝置并可選配暗場、微分干涉裝置，拓展了功能。
6、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
◆典型應(yīng)用：
1、分析金屬、礦相的結(jié)構(gòu)組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。3、觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。
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