三目正置金相顯微鏡WYJ-53XA配置了立桿式的機(jī)架和移動(dòng)工作臺(tái)，顯微鏡主體可大范圍升降和360°旋轉(zhuǎn)。尤其適合于觀察有一定高度的大工件試樣，也適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，材料表面的某些特征（劃痕、裂紋、噴涂的均勻性），化學(xué)顆粒等方面的研究。總放大倍數(shù)：50X-625X
◆性能特點(diǎn)：
1、配置了立桿式的機(jī)架，適合于觀察有一定高度的大工件試樣。
2、采用了優(yōu)質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，視野寬闊，視場(chǎng)平坦,成像清晰。
3、配置了帶偏光裝置落射照明系統(tǒng)，適合觀察高反光材料表面。
4、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
◆典型應(yīng)用：
1、分析金屬、礦相結(jié)構(gòu)組織。
2、電子廠PCB板、芯片檢驗(yàn)。
3、觀察材料表面的某些特性， 如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。
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